Mit dem Röntgendiffraktometer ist eine zerstörungsfreie Strukturanalyse von kristallinen Materialien möglich. Mögliche Untersuchungen sind:

• Bestimmung von Phasen(anteilen)
• Kristallstrukturanalyse
• Korngrößenbestimmung
• Bestimmung von Texturierungen
• Eigenspannungsanalyse
• Dünnschichtanalyse: Schichtdickenbestimmung, Rauheit, Dichte
• Röntgenfluoreszenzanalyse

Philips X'Pert Pro MPD

• Röntgenquellen: Cu, Cr und Mo
• Divergente oder parallele, monochromatische Primäroptik
• Detektoren: Proportionalzähler und X'Celerator Halbleiterstreifendetektor
• Software: X'Pert Highscore Plus, X'Pert Stress, X'Pert Texture, X'Pert Reflectivity
• Probentische:
  • xyz-phi-psi-Tisch
  • sample-spinner
  • Tieftemperaturkammer (77 bis 723 Kelvin)
  • Hochtemperaturkammer (Raumtemperatur bis 1173 K)
  • Eulerwiege
  • capillary-spinner
  • Doppel-Magnetron-Sputterkammer